NAVARRO, Andrés et al. Calibración de la permitividad y conductividad en modelos de trazado de rayos basados en medidas. INGENIERÍA Y COMPETITIVIDAD, [S.l.], v. 20, n. 1, p. 41-51, feb. 2018. ISSN 2027-8284. Disponible en: <http://revistaingenieria.univalle.edu.co/index.php/ingenieria_y_competitividad/article/view/6100>. Fecha de acceso: 17 ago. 2018 doi: https://doi.org/10.25100/iyc.v20i1.6100.