Datos del estudio de películas delgadas de CdS:Al crecidas por el método de deposición de baño químico después del envejecido

Resumen

Este artículo presenta los datos del estudio de las propiedades estructurales, ópticas y vibracional de películas delgadas de CdS:Al sintetizadas por el método de deposición de baño químico (DBQ) después del envejecido. Las muestras fueron caracterizadas por difracción de rayos X, espectroscopia UV-visible y fotoluminiscencia, y espectroscopia Raman. El patrón de difracción de rayos X de las muestras presenta una estructura cristalina hexagonal de CdS. El tamaño del cristalito fue estimado para cada película delgada. La brecha de banda de energía fue calculada empleando el método de Tau. Las muestras presentan defectos en su estructura. Un estudio detallado sobre la estructura fue llevado a cabo en el rango de 200 a 800 cm–1, donde los modos vibracionales 1LO y 2LO están presentes. Los datos no han sido reportados o discutidos por ahora.

Autores/as

  • Edgar Mosquera
  • Jesús Diosa
  • Arturo Fernández-Pérez

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Palabras clave

Citas

(1) Fernández-Pérez A, Navarrete C, Valenzuela P, Gacitúa W, Mosquera E, Fernandez H. Characterization of chemically-deposited aluminum-doped CdS thin films with post-deposition thermal annealing. Thin Solid Films. 2017; 623:127-34. Doi: 10.1016/j.tsf. 2016.12.036.
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Publicado
2020-01-29
| 26 |
Cómo citar
Mosquera, E., Diosa, J., & Fernández-Pérez, A. (2020). Datos del estudio de películas delgadas de CdS:Al crecidas por el método de deposición de baño químico después del envejecido. INGENIERÍA Y COMPETITIVIDAD, 22(1), 4. https://doi.org/10.25100/iyc.v22i1.8853